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《透射电子显微镜校准规范》征询意见发布

2019-12-25作者:浏览次数:68  来源:北京彼奥德电子技术有限公司
全国几何量长度计量技术委员会发布了《透射电子显微镜校准规范》征求意见。
《透射电子显微镜校准规范》主要依据JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》进行编制,JJF1001-2011《通用计量术语及定义》、JJF1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》、JJF 1094-2002《测量仪器特性评定》共同构成支撑校准规范制定工作的基础性系列规范。
本规范为首次制定,主要技术内容和计量特性参考了JJG(教委)011-1996《透射电子显微镜检定规程》和GB/T 34002-2017《微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法》的部分内容。
本规范按照JJF 1071—2010《国家计量校准规范编写规则》的要求制定透射电子显微镜校准规范,在内容和格式上与JJF 1071—2010保持一致。校准规范的具体内容有范围、应用文件、术语和定义、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、校准结果的表达、复校时间间隔等。
本规范参考JJG(教委)011-1996《透射电子显微镜检定规程》和GB/T 34002-2017《微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法》,确定透射电子显微镜4项计量特性,分别为测长示值误差、测长重复性、正交性误差和漂移速率。针对每一校准项目,规定了使用的标准样品,明确了相应的校准操作。
《透射电子显微镜校准规范》中的技术指标和校准方法均进行了实验验证;依据JJF 1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》对仪器测长示值误差测量结果的不确定度进行分析,进一步验证了所采用的测量方法合理、可行。
《透射电子显微镜校准规范》是针对透射电子显微镜校准制定的计量技术规范。本规范适用于透射电子显微镜的校准。

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