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半导体电阻率测试仪
产品型号:GHSTZ-522
最小起订量:1
供货总量:10
所在地区:国内-山西
生产厂商:山西冠恒精电仪器设备有限公司
发布时间:2019-05-25 15:40
有效期:2019-06-26 21:31
价格:面议
满足国标: GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M

一、满足国标:

GB/T 24521-2009和YS/T587.6-2006有关美标和行业标准。GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。

测试台设计符合符合z新GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》

二、升级后的好处:

GHSTZ-522半导体电阻率测试仪采用国际通用的电流、电压四端子测量法(仪器电流源和电压表两个单元分别从独立回路连至电极同时和试样接触)可以消除电极与连接导线通电阻产生的误差,客服了传统的二端法测量粉末电阻率仪器的弊病,可以真实的、准确的测量出粉末样品的电阻率,因此重复性也好。

三、适用材料:

GHSTZ-522半导体电阻率测试仪配有成套PC软件,故不但可以单独(脱机)操作,还可以连接PC软件,自动保存当前测试数据、查询并统计分析历史数据、打印测试报告等!

GHSTZ-522半导体电阻率测试仪具有测量精度高,操作简便、稳定性好,重复性好,一机多用使用方便等特点。也是区别于以往旧款同类测试台新特点!本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析固态和粉态样品质量的一种重要优良工具。

四、仪器的结构:

仪器组成:整套仪器有主机和粉末测试台两大部分组成。

仪器主机是整个系统电气控制显示核心部分,主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统单元以及压力厚度显示单元组成。

粉末测试台:是连接测试主机,用来装夹半导体粉末(含高分子粉末和金属粉末等),进行压力施加(压片)并同步进行电阻率测试的装置(以下简称测试台)。
测试台为粉末标准容器、电极、加压机构、压力检测、厚度检测、连接线缆等单元组成。

压力机构采用手动操作,压力(压强)平稳可调、可保持。电子传感器自动同步检测、显示压力(压强)值和样本高度。故本测试台可一边加压一边同步测试电阻率,可方便测绘粉末样品“电阻率-压强”的性能曲线;也可以单独作为粉末压制成片的工具使用,成片后可脱模取出,用普通四探针法测试相关参数!

五、技术参数:

1.电阻率测量范围、分辨率:

电阻率:15.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm(1.0×10-6 ~ 200.0×101 Ω-cm)

分辨率:1.5×10-6 ~ 0.1×103  Ω-cm(0.1×10-6 ~ 0.1×101  Ω-cm)

2.电阻率量程划分及错误等级:

满度显示

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

最大拓展量程

KΩ-cm

Ω-cm

mΩ-cm

基本误差

±2%读数±4字

±1.5%读数±4字

±0.5%读数

±2字

±0.5%读数

±4字

3.数字电压表:

量程:10mV ~ 100 mV自动

显示:4位有效数字,最大显示999.9  小数点、单位自动显示

4.数控恒流源:

电流输出:直流电流0.1µA~1000mA可调,系统自动步进调整。

六、粉末测试台部分参数:

1.试样成份:成份不限,但不得含有对测试台和电极有腐蚀作用的成份。

2.试样粒度:标准以40目以下—60目以上(标准筛网),一般其他粒度也可!

3.试样容器:内径:Φ11.28mm(S=1.0cm2)高度:0~20mm可调,带高度传感器监测,测量误差:±0.05mm。

4.测试压强标准压强:P0=4Mpa±0.05Mpa。压强量程:20Mpa, P=0~20 Mpa可调。

5.压力机构采用手动操作、压力平稳可调。

6.四位有效显示数00.00~20.00MPa,分别率±0.01 MPa。

7.测试仪外形尺寸:250*220*540mm

8.测试仪重量:10Kg

9.电源:功耗:< 10W  输入:220V±10% 50Hz

10.本仪器工作条件为:温度:0-40℃相对湿度:≥60%工作室内应无强电磁场干扰,不与高频设备共用电源。

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